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一篇論文被 ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis (ISSTA 2025) 錄用
來源: 向毅/
華南理工大學
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2025-03-30

黃翰教授和我共同指導的博士生王海寧的工作“A Low-Cost Feature Interaction Fault Localization Approach for
 Software Product Lines”被ISSTA 2025錄用。針對操作系統(tǒng),、數據庫和編譯器等軟件產品線所面臨的缺陷定位效率低的難題,,我們采用反事實推理技術構造有效的搜索子空間,并以避免重復搜索為目標,,提出了一種低代價的缺陷定位算法,。實驗結果表明,該算法在保證定位準確性的同時,,較現有先進方法的定位效率提高了17倍,,最高可達22倍,。該工作的合作者包括華南理工大學的楊曉偉教授、普華基礎軟件有限公司的曹捷博士,。未來,,我們將與企業(yè)方一道,繼續(xù)圍繞基礎軟件的缺陷定位和修復展開研究,,預計將產出更多有實用價值的成果,。

 

Haining Wang (South China University of Technology) 

Yi Xiang (South China University of Technology) 

Han Huang (South China University of Technology)

Jie Cao (Puhua Basic Software Co.)

Kaichen Chen (South China University of Technology)

Xiaowei Yang (South China University of Technology)


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